低溫電阻率測(cè)試儀
簡(jiǎn)要描述:變溫電阻/電阻率測(cè)試儀主要用于陶瓷,薄膜,金屬的電阻測(cè)試,可以搭配吉時(shí)利6517B,日置SM71系列,同惠TH26系列高阻計(jì)或低阻計(jì)聯(lián)用測(cè)試電阻。
- 產(chǎn)品型號(hào):TRS1821
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-06-18
- 訪 問(wèn) 量:1994
詳情介紹
變溫電阻測(cè)試是衡量材料在不同溫度下的電阻變化情況,是材料的本征物理特性,測(cè)試變溫電阻具有重要的理論基礎(chǔ),典型的NTC, PTC 材料對(duì)溫度敏感新材料,研究其溫度穩(wěn)定性,和溫度系數(shù)具有重要的意義。上海同果智能科技有限公司自主研發(fā)的變溫電阻/電阻率測(cè)試儀主要用于陶瓷,薄膜,金屬的電阻測(cè)試,采用四探針測(cè)試法測(cè)試,可以搭配吉時(shí)利6517B,日置SM71系列,同惠TH26系列高阻計(jì)或低阻計(jì)聯(lián)用測(cè)試電阻。
基本參數(shù):溫度下線:-150℃,-100℃,-50℃,室溫
溫度上限: 200℃,400℃,500℃
測(cè)試電流:>1pA
電壓:< 1000V
電阻:微歐~ 10P歐
測(cè)試材料:介質(zhì)陶瓷,薄膜,金屬,半導(dǎo)體等
測(cè)試方式:四探針?lè)?br/>
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